英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
型 號
所屬分類(lèi)輪廓測量?jì)x
報價(jià)
更新時(shí)間：2023-07-02
產(chǎn)品描述：本系列非接觸式光學(xué)計量工具包括 CCI HD、CCI MP 和 CCI MP-HS。 這些多功能儀器非常適合需要進(jìn)行高精度 3D 輪廓分析的制造工業(yè)和研究領(lǐng)域使用。英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP產(chǎn)品概述
英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
無(wú)論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng )新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無(wú)論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
●2048 x 2048像素陣列，視場(chǎng)廣，高分辨率
●全量程0.1埃的分辨率
●輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
●RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
●多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件
*的光學(xué)干涉測量技術(shù)
• 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
• 改進(jìn)后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米
• 1024 x 1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場(chǎng)
• 增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數據
從實(shí)質(zhì)上消除測量的不確定性
• RMS重復性小于0.2埃，臺階高度重復性小于0.1%
• 整個(gè)測量量程有著(zhù)0.1埃分辨率
• FEA優(yōu)化機械設計，具備出色的R&R能力
• 采用ISO標準的校準，確保結果的可信度
追求長(cháng)期成本效益的堅固耐用設計
• 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用
• 自動(dòng)表面檢測可防止撞壞鏡頭
• 內置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
• 操作的簡(jiǎn)便性可減少使用者出錯可能
64位控制和分析軟件
• 包括中文、日文在內的多語(yǔ)種支持
• 兼容大多數計算機平臺，有利于開(kāi)展合作性研究項目
• 提供多種新工具，包括3D表面隨時(shí)間演變過(guò)程中進(jìn)行4D分析
• 根據多批次測量數據自動(dòng)生成報告
- 上一個(gè)： Talysurf PGI Dimension 輪廓儀主要特性
- 下一個(gè)： 同時(shí)表面粗糙度和輪廓測量的Taylor Hobson
